Nacionalinės fizikos laboratorijos (Jungtinė Karalystė) tyrėjai, bendradarbiaudami su kolegomis iš Linčiopingo universiteto (Švedija), parodė, kad skirtingo storio grafeno sritis galima nesunkiai išskirti aplinkos sąlygomis naudojant elektrostatinės jėgos mikroskopą.
Įspūdingosios grafeno savybės paprastai pasireiškia, kuomet medžiagos storis siekia vieną arba du grafeno lakštus. Nors įmanoma susintetinti daugybę grafenų sluoksnių, storesni dariniai pasižymi savybėmis, kurios artimos įprastiniam tūriniam grafitui.
Kairėje pusėje pavaizduotas paviršinis vaizdas (topografija), viduryje pateikiamas topografijos klaidų vaizdas, o dešinėje elektrostatinės jėgos mikroskopo pradėtas kurti vaizdas
Konstruojant įrenginius, kuriuose panaudojami vienas arba du grafeno lakštai, būtina tiksliai nustatyti grafeno sluoksnio storį. Eksfoliacinius grafeno lakštus, kurių dydis siekia apie 100 mikrometrų, galima nesunkiai identifikuoti optinės mikroskopijos metodais. Tačiau situacija žymiai pasunkėja, kai nagrinėjamas ant silicio karbido plokštelių, kurių skersmuo viršija 12 centimetrų, užaugintas epitaksinis grafenas – šiuo atveju standartiniai storio nustatymo metodai nebetinka. Darbe, neseniai išspausdintame žurnale „Nano Letters“, tyrėjai parodo, jog elektrostatinės jėgos mikroskopas – vienas iš paprasčiausių ir populiariausių skenuojančios zondinės mikroskopijos įrankių – gali aiškiai išskirti skirtingo storio grafeną. Šis metodas taip pat gali būti naudojamas aplinkos sąlygomis, o tai reiškia, jog yra tinkamas pramonės reikmėms.
